我國(guó)探針市場(chǎng)需求量巨大,多達(dá)4.81億支
文章出處:行業(yè)資訊 責(zé)任編輯:深圳市華榮華電子科技有限公司 閱讀量:- 發(fā)表時(shí)間:2022-07-01 00:00:00
標(biāo)簽:彈性探針 半導(dǎo)體高頻探針 雙頭探針
探針一般用于半導(dǎo)體制造過程中的電氣檢查、測(cè)量。隨著近來半導(dǎo)體的需求,探針受到了人們的關(guān)注。將探針卡上的探針直接與芯片上的焊墊或凸塊直接接觸,引出芯片訊號(hào),再配合周邊測(cè)試儀器與軟件控制達(dá)到自動(dòng)化量測(cè)的目的。探針卡應(yīng)用在IC尚未封裝前,針對(duì)裸晶系以探針做功能測(cè)試,篩選出不良品、再進(jìn)行之后的封裝工程。因此,探針卡是IC制造中對(duì)制造成本影響相當(dāng)大的重要制程之一。
半導(dǎo)體探測(cè)系統(tǒng)是一種成熟的工具,用于測(cè)試硅晶片,裸片和開放式微芯片上的電路和器件。探針臺(tái)允許用戶將電探針,光學(xué)探針或RF探針放置在硅晶片上,從而可以測(cè)試。這些測(cè)試可以很簡(jiǎn)單,例如連續(xù)性或隔離檢查,也可以很復(fù)雜,包括微電路的完整功能測(cè)試。可以在將晶圓鋸成單個(gè)管芯之前或之后進(jìn)行測(cè)試。在晶圓級(jí)別的測(cè)試允許制造商在生產(chǎn)過程中多次測(cè)試該器件,這可以提供有關(guān)哪些過程步驟將缺陷引入最終產(chǎn)品的信息。它還使制造商能夠在封裝之前測(cè)試管芯,這在封裝成本相對(duì)于器件成本高的應(yīng)用中很重要。
我國(guó)探針行業(yè)具有應(yīng)用領(lǐng)域廣,產(chǎn)品類型多樣等行業(yè)特點(diǎn),是電子元器件、半導(dǎo)體、微電子、集成電路行業(yè)檢測(cè)不可或缺的產(chǎn)品,且收益于下游領(lǐng)域的快速發(fā)展,探針行業(yè)處于穩(wěn)步發(fā)展階段。據(jù)中經(jīng)智盛發(fā)布的2020年我國(guó)探針需求量達(dá)4.81億支。2016年我國(guó)探針市場(chǎng)銷售量為2.95億支,2020年為4.79億支,同比2019年增長(zhǎng)14.79%。2016年我國(guó)探針市場(chǎng)銷售額為16.56億元,2020年為29.60億元,同比2019年增長(zhǎng)17.15%。
目前,全球半導(dǎo)體探針主要以美日企業(yè)為主,高端市場(chǎng)幾乎被這兩大主力地區(qū)壟斷。在高端半導(dǎo)體探針領(lǐng)域,由于國(guó)內(nèi)廠商尚未形成規(guī)模效應(yīng)與集群效應(yīng),所以其生產(chǎn)仍以合資和“代工”模式為主,其中深圳華榮華探針采用日本高精度CNC車床車削成形,經(jīng)過精密的鍍層、硬度、壽命測(cè)試、產(chǎn)品品質(zhì)已與歐、美、日、等一些知名產(chǎn)品相當(dāng),同時(shí)還提供德國(guó)INGUN、美國(guó)QA、臺(tái)灣CCP等名牌探針,具有相當(dāng)都實(shí)力。
我國(guó)仍是全球電子制造基地,具有最完善的產(chǎn)業(yè)鏈以及龐大的消費(fèi)群體。華為、中興事件后,預(yù)計(jì)IC產(chǎn)業(yè)政策扶持力度會(huì)加碼,未來隨著國(guó)內(nèi)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)進(jìn)入密集建設(shè)期,國(guó)內(nèi)企業(yè)在國(guó)家政策和市場(chǎng)需求推動(dòng)下加大研發(fā),我國(guó)有望加快集成電路國(guó)產(chǎn)化集成,逐步實(shí)現(xiàn)從低端向高端替代,從而減少對(duì)集成電路進(jìn)口,減少國(guó)外依賴的局面。在半導(dǎo)體設(shè)備領(lǐng)域也將奮起直追,逐步提高國(guó)產(chǎn)設(shè)備的質(zhì)量、擴(kuò)大國(guó)產(chǎn)半導(dǎo)體探針市場(chǎng)份額。
探針根據(jù)不同的應(yīng)用分為多種類型,最常用的探針類型包括彈性探針、懸臂式探針和垂直式探。目前,我國(guó)探針行業(yè)仍處于中低端領(lǐng)域,而國(guó)內(nèi)在探針行業(yè)仍面臨著設(shè)備落后、原材料不足以及相關(guān)工藝較弱等問題,產(chǎn)品與國(guó)際水平相差較大,行業(yè)仍處于成長(zhǎng)期。
隨著半導(dǎo)體集成電路日益廣泛的應(yīng)用,對(duì)其質(zhì)量的要求也相對(duì)提高,與此同時(shí),集成電路測(cè)試器的技術(shù)進(jìn)步備受關(guān)注。作為集成電路測(cè)試器中的關(guān)鍵部件,一套測(cè)試治具需要用到幾十、幾百甚至于上千根測(cè)試探針,測(cè)試探針從其結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、材料組成、生產(chǎn)制造的方方面面都有大量研究。研究的共同目標(biāo)是逐步提高測(cè)試探針的測(cè)試精度,為半導(dǎo)體行業(yè)的發(fā)展提供助力。測(cè)試探針的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)影響了探針的穩(wěn)定性、細(xì)微化、信號(hào)傳導(dǎo)的精確度等等方面,值得更多研究力量的投入。2020年,全球半導(dǎo)體測(cè)試探針系列產(chǎn)品的銷售規(guī)模達(dá)到了12.51億美元。
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