現在探針的用途也越來越廣，特別是高科技企業(yè)產品的生產都離不開測試探針，沒有測試探針高科技產品無法確保品質。那么探針該如何選擇呢?下面的介紹相信大家看后會更好地選擇自己需要什么樣的探針產品了。

　　半導體測試探針主要應用于半導體的芯片設計驗證、晶圓測試、成品測試環(huán)節(jié)，是連通芯片/晶圓與測試設備進行信號傳輸的核心零部件，對半導體產品的質量控制起著重要的作用。

　　1、測試探針產品結構

　　探針一般由針頭、針尾、彈簧、外管四個基本部件經精密儀器鉚壓預壓之后形成。

　　由于半導體產品的體積較小，尤其是芯片產品的尺寸非常細微，探針的尺寸要求達到微米級別，是一種高端精密電子元器件，其制造技術含量高。

　　在晶圓或芯片測試時，探針一般用于晶圓/芯片引腳或錫球與測試機之間的精密連接，實現信號傳輸以檢測產品的導通、電流、功能和老化情況等性能指標。

　　不同用途的探針外觀有所不同，但探針內部基本上都有精密的彈簧結構，產品表面一般鍍金，具有很強的防腐蝕性、電氣性能、穩(wěn)定性和耐久性。

　　作為半導體測試設備中的關鍵部件，探針的結構設計(如針頭形狀)、針頭材質(如鎢、鈸銅)、彈力大小等均對探針的穩(wěn)定性、細微化、信號傳導精確度等有影響，進而影響探針的測試精度。

　　2、測試探針結構分類

　　從結構來看，常見的探針類型主要包括彈性探針、懸臂式探針和垂直式探針。

　　彈性探針

　　彈性探針由螺旋彈簧兩端套接在上下柱栓上，螺旋彈簧中間部分緊密纏繞(防止高頻信號產生附加電感和附件電阻)，兩端部分稀疏纏繞(可形變減少彈簧剛度對測試件的壓強)，檢測集成電路時，信號從下柱栓向上形成導電路徑。

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