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測試探針的頭部發(fā)黑是什么原因呢?

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測試探針的頭部發(fā)黑可能是由于以下原因導致的:

1.  氧化:測試探針的頭部可能會因為長時間暴露在空氣中而發(fā)生氧化反應,導致表面出現(xiàn)黑色氧化物,這種情況通常發(fā)生在金屬探針上。

2.  污染:測試探針的頭部可能會被污染物覆蓋,例如灰塵、污染物,這些污染物可能會導致探針頭部變黑。

3.  高溫:如果測試探針在高溫環(huán)境下使用或存儲,其頭部可能會因為熱膨脹而變形,導致表面出現(xiàn)黑色痕跡。

4.  磨損:長期使用測試探針可能會導致其頭部磨損,從而產(chǎn)生黑色痕跡。

5.  質量問題:如果測試探針的質量不好,例如材料不均勻或者制造過程中存在缺陷,也可能導致其頭部變黑。

6.電流:是否電流過大造成的

深圳市華榮華電子科技有限公司秉承“誠實守信 ,攜手共贏,以客戶需求為導向,堅持做價格厚道的好產(chǎn)品”為企業(yè)文化;將質量視為企業(yè)的生命。始終堅持“以質量為根本,堅持做價格厚道的好產(chǎn)品”的經(jīng)營使命;不斷滿足市場需求,與廣大客戶攜手合作,誠實守信 ,攜手共贏,堅持以客戶需求為導向,共創(chuàng)美好未來!

測試探針按結構如何分類

測試探針按結構如何分類

測試探針按結構如何分類?從結構來看,常見的探針類型主要包括彈性探針、懸臂式探針和垂直式探針。  彈性探針  彈性探針由螺旋彈簧兩端套接在上下柱栓上,螺旋彈簧中間部分緊密纏繞(防止高頻信號產(chǎn)生附加電感和附件電阻),兩端部分稀疏纏繞(可形變減少彈簧剛度對測試件的壓強),檢測集成電路時,信號從下柱栓向上形成導電路徑?! 冶凼教结槨 冶凼教结槥榻栌蓹M向懸臂提供探針針部在接觸待測半導體產(chǎn)品時適當?shù)目v向位移,以避免探針針部施加于待測半導體產(chǎn)品的針壓過大?! 〈怪笔教结槨 〈怪笔教结樋蓪呙芏刃盘柦狱c的待測半導體產(chǎn)品的細間距排列,并借由針體本身的彈性變形提供針尖在接觸待測半導體產(chǎn)品所需的縱向位移?! ∩钲谑腥A榮華電子科技有限公司經(jīng)多年發(fā)展,已經(jīng)穩(wěn)步成為國內測試探針集研發(fā)、生產(chǎn)銷售于一體的專業(yè)公司。華榮華現(xiàn)有員工10

2024-04-10

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