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探針彈簧發(fā)黑是哪些原因?qū)е碌?/h1>

標(biāo)簽:

  在使用INGUN測(cè)試探針的過(guò)程中,出現(xiàn)探針彈簧及行程部份發(fā)黑,是什么原因會(huì)引起發(fā)黑?我們又該如何去改善?有可能是以下這些原因?qū)е拢?/p>

  1.污染物附著,導(dǎo)致探針在測(cè)試時(shí)電阻升高,溫度增加,造成彈簧損傷清潔。

  2.通過(guò)探針的實(shí)際電流過(guò)高。在實(shí)際測(cè)試中,電流測(cè)試有長(zhǎng)測(cè)電流和瞬時(shí)電流之分,即使常測(cè)電流在額定電流內(nèi),瞬時(shí)電流超限也是不行的,應(yīng)該要保證瞬時(shí)電流也在探針的額定電流范圍內(nèi)。

  3.尾部接線不合規(guī)范,導(dǎo)致探針產(chǎn)熱增加

  4.探針測(cè)試回路是否有短路發(fā)生

  5.確認(rèn)探針應(yīng)用的測(cè)試環(huán)境溫度,測(cè)試環(huán)境溫度過(guò)高,會(huì)影響探針的電流傳輸能力,溫度越高探針的傳輸電流能力就越弱,直至為零,探針的傳輸電流能力減弱,會(huì)造成彈簧損傷。

  6.探針頭部與測(cè)點(diǎn)接觸面積不足,導(dǎo)致電流傳輸面積變小,產(chǎn)熱增加

  7.排除探針側(cè)向力來(lái)源。

  因此,當(dāng)探針出現(xiàn)發(fā)黑的情況,我們要從測(cè)試環(huán)境的整潔度、電流大小、接線是否符合規(guī)范、是否短路、環(huán)境溫度是否夠高、接觸面積是否不足,側(cè)向力來(lái)源等相關(guān)方面去排除,因?yàn)槲覀兲结樀谋砻媸清兘鸬?,金只有在純氧或者硫化物含量過(guò)高的環(huán)境內(nèi)才會(huì)發(fā)生氧化變色,且探針的內(nèi)部不存在油漬,探針的發(fā)黑只能是污染物附著或者鍍金層磨損造成的。

  深圳市華榮華電子科技有限公司探針采用日本高精度CNC車床車削成形,經(jīng)過(guò)精密的鍍層、硬度、壽命測(cè)試、產(chǎn)品品質(zhì)已與歐、美、日、等一些知名產(chǎn)品相當(dāng)。同時(shí)還提供德國(guó)INGUN、美國(guó)QA、臺(tái)灣CCP等名牌探針。

030系列測(cè)試探針規(guī)格型號(hào)

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深圳市華榮華電子科技有限公司2006年在國(guó)際大都市——中國(guó)深圳成立,經(jīng)多年發(fā)展已經(jīng)穩(wěn)步成為國(guó)內(nèi)領(lǐng)先的PCB探針集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的 專業(yè)公司。 我們生產(chǎn)的測(cè)試探針被廣泛應(yīng)用在ICT、PCB、FPC等設(shè)備及電腦、電信、汽車、軍事領(lǐng)域的測(cè)試和其他通訊產(chǎn)品上。除了PCB測(cè)試探針我們還有生產(chǎn)其他測(cè)試探針,如:夾片測(cè)試針、高頻探針、電流針、pogo pin、充電針、大電流針、開關(guān)針、PCB測(cè)試針、BGA雙頭針、ICT測(cè)試針、彈簧測(cè)試針及精密五金件和各種標(biāo)準(zhǔn)與非標(biāo)的消費(fèi)五金件、汽車醫(yī)療配件、汽車配件、機(jī)械配件、醫(yī)療配件、電子配件;PCB制造商、高品質(zhì)ICT測(cè)試針。產(chǎn)品主要應(yīng)用于各類電子產(chǎn)品的測(cè)試。由于要不同大小的測(cè)試板需不同規(guī)格的測(cè)試針去滿足測(cè)試,測(cè)試探針規(guī)格由最早的125min、100min、7

2019-12-09

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